SCP Science · Fluorescência de Raios-X
Padrões certificados para calibração e controle de qualidade em fluorescência de raios-X por dispersão de comprimento de onda (WDXRF) e por dispersão de energia (EDXRF). ISO 17034, rastreabilidade NIST. Melhores preços do mercado nacional.
ISO 17034
ISO/IEC 17025
Rastreabilidade NIST
Distribuidor Oficial
Linha completa para calibração, verificação e controle de qualidade em WDXRF e EDXRF. Todos disponíveis em estoque no Brasil.
| Tipo de Padrão | Descrição | Aplicação | Cotação |
|---|---|---|---|
| Padrões em Solução para XRF | Soluções monoelementares e multielementares certificadas para preparação de curvas de calibração em XRF por método de adição padrão ou calibração externa. | Calibração de WDXRF e EDXRF — metais em solução | Solicitar cotação |
| Materiais de Referência em Matriz Sólida | CRMs em matriz sólida (pó, pastilha ou fundido) certificados para composição elementar — ideais para validação de método e controle de qualidade em XRF. | Validação de método, CQI e auditorias em análise por XRF | Solicitar cotação |
| Padrões para Enxofre em XRF | Padrões certificados de enxofre em matriz orgânica ou inorgânica para calibração de teor de S por XRF — faixas de baixo a alto teor disponíveis. | Determinação de S em combustíveis, cimentos, minérios e solos por XRF | Solicitar cotação |
| Padrões para Metais em Matriz Geológica | Materiais de referência certificados em matrizes de rochas, minérios e solos — para calibração e validação de métodos de análise geoquímica por XRF. | Mineração, geoquímica, controle de processo e análise de solos por XRF | Solicitar cotação |
| Padrão de Verificação (VER) | Padrão de fonte independente para verificação periódica da calibração do equipamento XRF e controle de deriva de longo prazo. | Controle de qualidade interno e verificação de desempenho do instrumento XRF | Solicitar cotação |
| Padrão Customizado SCP Science | Padrões desenvolvidos sob encomenda com elementos, concentrações e matrizes específicas conforme a necessidade do laboratório. | Métodos internos, matrizes industriais especiais e aplicações específicas | Solicitar cotação |
Padrões monoelementares disponíveis para os principais elementos analíticos. Para elementos não listados ou misturas específicas, consulte nossa equipe.
Determinação de composição elementar em amostras geológicas, controle de processo de beneficiamento e análise de teor em minérios.
Determinação de Ca, Si, Al, Fe, S, K e demais óxidos em clínquer, cimento e matérias-primas para controle de processo e produto final.
Determinação de composição de ligas metálicas, aços, alumínios e demais materiais metálicos para controle de qualidade e classificação.
Determinação de enxofre em diesel, gasolina, lubrificantes e derivados de petróleo conforme normas ASTM D2622, ISO 20884 e similares.
Determinação de metais em solos, sedimentos, material particulado e resíduos sólidos para laudos ambientais e monitoramento de contaminação.
Verificação de composição elementar em cerâmicas, vidros, polímeros, tintas e demais materiais industriais para controle de entrada e saída.
Os padrões SCP Science para XRF são certificados para uso em qualquer espectrômetro de fluorescência de raios-X — sem restrição de fabricante ou modelo.
A SCP Science é acreditada como Produtor de Material de Referência (ISO 17034) — garantindo rigor metrológico comprovado na produção de cada padrão para XRF.
Todos os padrões são rastreáveis a SRMs do National Institute of Standards and Technology (NIST) — requisito de laboratórios acreditados pelo INMETRO e ISO/IEC 17025.
Certificado de Análise com valores certificados, incerteza expandida (k=2), metodologia de certificação e dados de validade — pronto para auditorias e laudos técnicos.
Próximos Passos
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